近紅外檢測
通過(guò)配置ISR-2600雙檢測器積分球,將傳統儀器模式下的300 nm ~ 1100 nm波長(cháng)范圍擴展至1400nm。因此,UV-2600可進(jìn)行太陽(yáng)能電池防反射膜和多晶硅硅片的測量。
右圖:寬測定波長(cháng)范圍
使用ISR-2600Plus測定多晶硅片的透過(guò)率
此圖是多晶硅樣品的透過(guò)率譜圖,由于系統具有測定到1400nm的能力,清晰顯示了帶隙區域(1000nm附近)的透過(guò)率特征。
使用ISR-2600Plus積分球測定減反射膜的相對漫反射率
此圖是減反膜的反射率譜圖。使用相對反射附件,系統可以實(shí)現從深紫外到近紅外區域的測定,可清晰顯示在可見(jiàn)區被抑制的反射率。
可進(jìn)行8-Abs檢測
UV-2700實(shí)現了超低雜散光,擴展測定范圍至8Abs,透過(guò)率0.000001%。除了測定高濃度樣品不需要稀釋外,此系統還能用于評價(jià)偏振膜的透過(guò)率性能。
高錳酸鉀溶液濃度和吸光度的線(xiàn)性曲線(xiàn)。直到8Abs都有好的線(xiàn)性。
高錳酸鉀水溶液的光譜比較
此圖是高錳酸鉀水溶液的光譜圖,有別于原機型,此系統具有高水平吸光度測定能力。
使用島津專(zhuān)利技術(shù)的Lo-Ray-Ligh等級衍射光柵使UV-2700具有高的精度。在衍射光柵生產(chǎn)過(guò)程中,新的專(zhuān)利生產(chǎn)方法應用到島津全息光柵技術(shù)上。通過(guò)優(yōu)化蝕刻工藝,在保持高效率的同時(shí),我們成功生產(chǎn)出超低雜散光的衍射光柵。在使用配備Lo-Ray-Ligh等級衍射光柵的最優(yōu)光學(xué)系統,UV-2700達到了無(wú)與倫比超低雜散光水平。